Kohyoung 3D AOI Zenith
新製品の登場に伴い、回路基板はますます複雑化しています。そのため、電子機器の製造ラインにおいて、AOI装置の重要性はさらに高まっています。業界には2D、2.5D、および疑似3Dの検査オプションが数多く存在しますが、これらは誤検知や見落としといった問題をさらに悪化させるだけです。 Zenith AOIシリーズは、高反射性のパッケージや隣接する部品による影に起因する問題を解決するために、真の3D検査を実現する唯一の装置です。.
Zenith AOIシリーズは、電子アセンブリの合格基準に関するIPC-610規格に基づいて検査基準を設定している、業界で唯一のソリューションです。 明確かつ精密なAOI測定により、はんだ欠け、オフセット、極性、逆向き、OCV/OCR、はんだフィレット、ビルボーディング、leadの浮き上がり、本体の浮き上がり、トゥームストーン、ブリッジなど、さまざまな欠陥を正確に特定します。 定量的な True 3D 測定に基づくアプローチを採用しているため、このシステムは卓越した精度と再現性を実現しています。.
Koh Young独自の画像処理アルゴリズムにより、Zenithシリーズははんだ接合部の正確な高さを定量的に測定することができます。影や相互反射といった課題がある場合でも、Zenithは電子アセンブリの合格基準であるIPC-610規格に準拠して、正確な検査と測定を行います。.
Industry-leading社の3Dプロファイル測定技術と、Koh Young社の独自AI技術が融合し、真の自動プログラミングを実現します。革新的な形状ベースの「Koh Young Auto Programming（KAP）」ソフトウェアソリューションにより、プログラミングプロセスが簡素化され、量産までの時間を短縮し、コストを削減します。.
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